關(guān)于 POP芯片測(cè)試 結(jié)果1

芯片高溫老化測(cè)試箱，也稱(chēng)為高溫老化測(cè)試箱，高溫試驗(yàn)箱，高溫烤箱，高溫烘箱，高溫老化箱。

美國(guó)IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)

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